所有装置

力学試験機

万能試験機 INSTRON社製 MODEL4466	万能試験機 島津製作所 AG-IS	小型引張試験機 アベ製作所製
引張速度 0.1~500 mm/min 試験温度 -60~250℃ 耐荷重 10 kN (定荷重も測定可能) さまざまな条件で一軸引張試験が可能 サイクル試験や応力緩和試験も可能	引張速度 0.1~1000 mm/min 試験温度 室温 耐荷重 10 kN, 500 N 引張り試験以外にも圧縮試験が可能 エアチャックを用いることで 滑りやすい試料も延伸できる	引張速度 1~100 mm/min 試験温度 室温~200℃ 耐荷重 500 N (定荷重も測定可能) 持ち運び可能な小型引張試験機 IRやラマン分光装置に組み込むことで 延伸過程におけるその場測定も可能

二軸引張試験機 カトーテック社製	曲げ試験機 アベ製作所製	クリープ試験機 鈴大エコー機商
引張速度 0.1~100 mm/min 試験温度 室温~200℃ 縦方向および横方向のチャックを 独立に動かすことで同時二軸や 逐次二軸延伸測定が可能 複屈折やIRスペクトルの 同時測定をすることができる	圧子速度 0.2~90 mm/min 試験温度 室温 圧子サイズ 曲率半径0.5,1.5,5.0 mm 両端固定および両端非固定の 三点曲げ試験が可能 ビデオカメラ撮影によって 局所ひずみ変化も測定可	引張速度 0.1~100 mm/min 延伸過程における試料断面積を リアルタイムで測定し、 荷重にフィードバックすることで 真応力一定のクリープ試験が可能

動的粘弾性測定装置 UBM社製	小型疲労試験機 アクロエッジ社製 Syclus	電磁力式微小試験機 島津製作所製
引張温度 -180~300℃ 周波数 0.01~300 Hz 試料の粘弾性を測定することが可能 温度及び周波数を広範囲で変化できる 引張、圧縮、曲げ、せん断モードで測定可能	アクロエッジ社と共同開発した 小型疲労試験機。 50Nまでの引張モードにて、一定ひずみ もしくは一定応力条件で 疲労試験が可能。 波形データは自動で記録し、 その場測定も適用可能	最大荷重100Nz 最大周波数100Hzまでの条件にて、 疲労試験やクリープ試験が可能

分光測定装置・顕微鏡

フーリエ変換型赤外分光装置 Perkin Elmer社製	ラマン分光装置 自作装置	小角光散乱測定装置 自作装置
露光時間 2 s 試料の赤外吸収スペクトルを測定し 試料の構造状態を評価することができる 延伸過程におけるその場測定を行い 分子配向状態の変化をリアルタイムで評価可能	レーザー3種類(532, 632, 640 nm) 自作装置のため、試料設置部分が広く 引張試験機やホットステージを組み込み 延伸過程や溶融・結晶化過程における 分子振動状態をその場測定できる 主に分子配向や分子鎖の応力負荷状態を 測定することができる	Ar+レーザー(532 nm)を用いて 試料のHvおよびVv散乱を測定し 球晶など数μmスケールの構造が評価可

蛍光分光装置 日立ハイテクサイエンス社製 F-2700	マイクロスコープ 松電舎製 TG300PC2	偏光顕微鏡 OLYMPUS社製
フィルムなどの固体試料と液体試料の 発光、励起、吸収スペクトルを測定可能 溶液試料の量子収率も測定可能	画質 300万画素 倍率 20~120倍 変形過程における試験片形状変化を測定 画像解析技術を用いて局所ひずみ変化を その場測定することも可能	数μmスケールの構造を評価 ホットステージを組み込むことで 結晶化過程における球晶成長を観察可能

試料調製・キャラクタリゼーション用装置

卓上型ホットプレス機 テクノサプライ社製	二本ロール混練機 井元製作所製	示差走査熱量測定器(DSC) Perkin Elmer社製 Diamond DSC
設定温度 室温~270℃ 設定圧力 0~40 MPa 約20 μmから2 mmまで さまざまな厚みの試料を調製できる 急冷条件を変化させることで 結晶度や球晶サイズが異なる 試料を調製できる	設定温度 25~250℃ ポリマーブレンドやナノコンポジットの 調製に使用	設定温度 -60~600℃ 試料の昇温・降温過程における熱変化を 測定することで、融点や結晶化温度など 熱的特性を評価することができる 結晶度や結晶成長速度も評価可能

サンテスト(キセノン促進曝露装置) アトラス社製	密度測定装置 Mettler Toledo社製
設定温度 35~100℃ 放射照度 300~800 nm キセノンランプ照射によって試料の 光劣化を促進させ、短時間で 光劣化試料を作成することが可能	空気中およびエタノール中の質量から アルキメデス法により密度を算出できる 得られた密度から体積結晶度を算出可能